斷口圖像分析儀的測試原理與方法：
采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下，采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法，該方法是各類方法中準(zhǔn)確和省力、省時、快捷方便的方法。
斷口圖像分析儀的產(chǎn)品特點：
操作方便，準(zhǔn)確率高，并能進行以往手工不能完成的操作。
儲存的結(jié)果數(shù)據(jù)可供用戶進行反復(fù)核對處理。
可以自動繪制FATT曲線、ETT曲線等。
通過其特定的電子光學(xué)采樣系統(tǒng)對沖擊斷口形貌進行全視野實時采樣，可完成對試樣的斷面纖維率、側(cè)膨脹值的測定。操作方便，準(zhǔn)確率高，并能進行以往手工不能完成的操作，可確認(rèn)試樣晶狀部分位置、形狀，并自動判斷結(jié)果。
斷口圖像分析儀適用于對金屬材料落錘、擺錘沖擊試樣斷口、缺口、膨脹值、裂紋長度、布氏硬度、維氏硬度、線、角度、圓心、矩形等測量分析工作。通過其特定的電子光學(xué)采樣系統(tǒng)將沖擊試樣斷口形貌進行全視野實時采樣，可完成對落錘、擺錘沖擊試樣斷口纖維率進行測量。操作方便，準(zhǔn)確率高，并能進行以往手工不能完成的操作。儲存的結(jié)果數(shù)據(jù)可供用戶進行反復(fù)核對處理。可以自動繪制FATT曲線、ETT曲線等。
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